专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]结构-CN201210164824.3有效
  • 杨明宗;黄裕华 - 联发科技股份有限公司
  • 2012-05-24 - 2013-02-13 - H01L23/485
  • 本发明公开一种结构。结构包括:绝缘层;导电,设置于所述绝缘层上;环形导电层,埋设于所述绝缘层内且大体上沿着所述导电的边缘下方;以及至少一第一导电介层插塞,埋设于所述绝缘层内且位于所述导电与所述环形导电层之间,使所述导电电性连接至所述环形导电层。本发明所公开的结构,通过环形导电层设置于绝缘层内且大体上沿着导电的边缘下方,以及第一导电介层插塞的设置,可以减轻或排除白的问题。
  • 凸块接垫结构
  • [发明专利]半导体芯片及用于制造半导体芯片的布局制备方法-CN201110309282.X有效
  • 陈宪伟 - 台湾积体电路制造股份有限公司
  • 2011-10-10 - 2012-05-16 - H01L23/498
  • 本发明公开一种半导体芯片,其具有一半导体基底;一第一导电,形成于基底上方;一第二导电,形成于基底上,且比第一导电更远离半导体芯片的几何中心;一第一下方金属结构,形成于第一导电垫上方;以及一第二下方金属结构,形成于第二导电垫上方。第一导电及第一下方金属结构具有一第一下方金属宽度比,且第二导电及第二下方金属结构具有一第二下方金属宽度比,其大于第一下方金属宽度比。本发明通过增加导电宽度或是增加宽度对下方金属宽度比,可降低基底的介电层内破裂和/或断裂及剥离。因此,可改善半导体芯片封装的寿命。
  • 半导体芯片用于制造布局制备方法
  • [发明专利]接点的电阻测量结构及包含其的封装基板-CN201110208532.0有效
  • 陈智;张元蔚 - 财团法人交大思源基金会
  • 2011-07-22 - 2012-10-24 - G01R27/08
  • 本发明公开了一种接点的电阻测量结构以及包含该结构的封装基板,该电阻测量结构包括:多个连接,排列呈一线;至少一第一连;以及至少一第二连;其中,该多个连接中的第n个连接与第n+1个连接以该第一连电性连接,该第n+1个连接与第n+2个连接以该第二连电性连接,n为1以上的奇数;该第一连与一第一电压测量连接;该第二连与一辅助连接连接,该辅助连接与一辅助(auxiliary bump)连接,一第二电压测量连接至该辅助
  • 接点电阻测量结构包含封装
  • [发明专利]倒装芯片封装协同设计方法-CN201410684986.9在审
  • 方家伟;黄升佑 - 联发科技股份有限公司
  • 2014-11-25 - 2015-06-03 - G06F17/50
  • 倒装芯片封装协同设计方法包括:提供所述芯片的输入/输出信息和印刷电路板的连接信息;根据所述芯片的所述输入/输出信息和所述印刷电路板的所述连接信息执行第一输入/输出垫布置;使用重分布层布线分析装置执行所述芯片的所述第一输入/输出垫布置的间隙分析,以产生间隙分析结果;根据所述间隙分析结果执行封装的计划,以产生计划结果;以及根据所述计划结果执行所述芯片的第二输入/输出垫布置,以产生输入/输出垫布置结果。
  • 倒装芯片封装协同设计方法
  • [发明专利]倒装芯片封装协同设计方法-CN201711286216.9在审
  • 方家伟;黄升佑 - 联发科技股份有限公司
  • 2014-11-25 - 2018-04-17 - G06F17/50
  • 倒装芯片封装协同设计方法包括提供所述芯片的输入/输出信息和印刷电路板的连接信息;根据所述芯片的所述输入/输出信息和所述印刷电路板的所述连接信息执行第一输入/输出垫布置;使用重分布层布线分析装置执行所述芯片的所述第一输入/输出垫布置的间隙分析,以产生间隙分析结果;根据所述间隙分析结果执行封装的计划,以产生计划结果;以及根据所述计划结果执行所述芯片的第二输入/输出垫布置,以产生输入/输出垫布置结果。
  • 倒装芯片封装协同设计方法
  • [发明专利]芯片封装体-CN200610073806.9有效
  • 何昆耀;宫振越;张家榕 - 威盛电子股份有限公司
  • 2006-03-30 - 2006-10-25 - H01L23/488
  • 一种芯片封装体,其包括一芯片、一封装基板与多个。芯片具有多个芯片,这些芯片配置于芯片的一表面上。封装基板具有多个第一基板、多个第二基板与一表面接合层,这些第一基板与这些第二基板配置于封装基板的一表面上,表面接合层配置于这些第一基板与这些第二基板垫上且覆盖各个第二基板的部分区域这些分别配置于这些芯片与表面接合层之间,芯片与封装基板是藉由这些而互相电连接,各个第一基板与这些之一电连接,且各个第二基板与这些的至少二电连接。
  • 芯片封装
  • [实用新型]增加安全爬电距离的微型插头连接器-CN201720177542.5有效
  • 孙鸿运;徐士才 - 东莞市泰康电子科技有限公司
  • 2017-02-27 - 2017-10-03 - H01R13/40
  • 本实用新型公开一种增加安全爬电距离的微型插头连接器,包括端子模组、绝缘套壳及连接器壳体;端子模组具有端子座及端子,端子座具有前端舌板部,前端舌板部的顶端、底端均凹设有搭凹槽,搭凹槽内左右间距式设有若干第一;顶壁、底壁的后端均一体向后延伸形成有搭板部,搭板部的内壁面设有若干右右间距布置的第二;搭板部则叠设于相应的搭凹槽内,所述第二位于相应的两相邻第一之间。藉此,通过搭板部、搭凹槽及第一、第二的设计,有效增加端子与连接器壳体之间的爬电距离,尤其是,其整体结构简单、易于制作及组装。
  • 增加安全距离微型插头连接器
  • [发明专利]柔性芯片封装结构-CN200910027622.2无效
  • 陈栋;张黎;赖志明;陈锦辉;曹凯 - 江阴长电先进封装有限公司
  • 2009-05-14 - 2009-12-23 - H01L23/485
  • 本发明涉及一种柔性芯片封装结构,属芯片封装技术领域。它包括芯片本体(1)、芯片电极(2)、芯片表面保护层(3)、柔性(4)、过渡层(5)以及焊球(6)。所述芯片电极(2)嵌置于芯片本体(1)上,芯片表面保护层(3)复合在芯片本体(1)表面以及芯片电极(2)表面外周边,而芯片电极(2)表面的中间部分露出芯片表面保护层(3),所述柔性(4)设置于所述芯片电极(2)表面的中间部分以及与所述芯片电极(2)表面的中间部分接合位置处的芯片表面保护层(3)表面,所述过渡层(5)复合于柔性(4)上,所述焊球(6)向上凸出设置于过渡层(5)上。本发明柔性芯片封装结构在不影响电性能的前提下,对所受应力起到吸收和缓和作用。
  • 柔性芯片封装结构
  • [实用新型]柔性芯片封装结构-CN200920045309.7有效
  • 陈栋;张黎;赖志明;陈锦辉;曹凯 - 江阴长电先进封装有限公司
  • 2009-05-14 - 2010-05-05 - H01L23/482
  • 本实用新型涉及一种柔性芯片封装结构,属芯片封装技术领域。它包括芯片本体(1)、芯片电极(2)、芯片表面保护层(3)、柔性(4)、过渡层(5)以及焊球(6)。所述芯片电极(2)嵌置于芯片本体(1)上,芯片表面保护层(3)复合在芯片本体(1)表面以及芯片电极(2)表面外周边,而芯片电极(2)表面的中间部分露出芯片表面保护层(3),所述柔性(4)设置于所述芯片电极(2)表面的中间部分以及与所述芯片电极(2)表面的中间部分接合位置处的芯片表面保护层(3)表面,所述过渡层(5)复合于柔性(4)上,所述焊球(6)向上凸出设置于过渡层(5)上。本实用新型柔性芯片封装结构在不影响电性能的前提下,对所受应力起到吸收和缓和作用。
  • 柔性芯片封装结构

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